色差儀從測量原理來說，可以分為反射測量和透射測量兩種。本文簡單介紹了色差儀反射測量的幾何條件及應用反射測量幾何條件的注意事項。

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色差儀反射測量的幾何條件

1漫射：8°，包含鏡面成分（符號為：di：8°）

采樣孔徑被以其平面為界的半球內表面從各個方向均勻地照明，測量區域過充滿。探測器對采樣孔徑區域的響應均勻，反射光束軸線和樣品中心法線成8角，在接收光束軸線5°內的所有方向上，采樣孔徑反射的輻射是均勻的。

2?漫射：8°，排除鏡面成分（符號為：de：8°）

滿足di：8°的條件，但將單面的平面反射鏡放置于采樣孔徑處時，沒有光反射到探測器方向，而且在這個方向的1以內也沒有鏡面反射。

圖1是實現漫射：8°幾何條件示意圖。分別使用反射平面與光陷阱，可以實現包含或排除鏡面成分測量。

3??8’：漫射，包含鏡面成分（符號為：8°：di）

滿足di：8°的條件，但光路相反。采樣孔徑被與法線成8°角的光照明，以參考平面為界的半球收集采樣孔徑反射的各個角度的通量。

4??8’：漫射，排除鏡反射成分（符號為：8*：de）

滿足de：8°的條件，但光路相反。

5?漫射/漫射（符號為：d:d）

照明滿足di：8*的條件，且以參考平面為界的半球收集采樣孔徑反射的各個角度通量。

6備選的漫射幾何條件（符號為：d：0°）

一個備選漫射幾何條件是出射方向沿著樣品法線，這是嚴格的不包含鏡反射的幾何條件。

7 ?45環帶/垂直（符號為：45°a：0°）

從頂點位于采樣孔徑中心，中心軸位于采樣孔徑法線上，半角分別為40°和50的兩個正圓錐之間各個方向射來的光均勻地照明采樣孔徑；探測器從頂點位于采樣孔徑中心，中心軸沿樣品法線方向、半角為5的正圓錐內均勻接收反射輻射。這種兒何條件可以將樣品質地和方向選擇性反射影響降至最低。如果這種照明幾何條件是由多個光源以接近于圓形排列來近似得到，或者由多根出光口排列成圓形且被單個光源照明的光纖束近似得到，形成的幾何條件叫作圓周/垂直幾何條件（符號為：45*c：0°）。

8??垂直/45°環帶（符號為：0°：45*a）

角度和空間條件滿足45*a：0*的條件，但光路相反。因此采樣孔徑被垂直照明，反射輻射被中心與法線成45°角的環帶接收。

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9 ??45°單方向/垂直（符號為：45%x：0°）

角度和空間條件滿足45 a?0°的條件，但輻射只從一個方位角發出。排除鏡反射，突出樣品質地和方向性的影響。符號ょ表示入射光束從某任意方位照射參考平面。圖2是45°單方向/垂直幾何條件示意圖。

10??垂直/45單方向（符號為：0°：45%x）

角度和空間條件滿足45%x：0°的條件，但光路相反。因此樣品表面被垂直照明，從與法線成45°角的某個方位接收反射輻射。

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應用反射測量幾何條件的注意事項

1?當應用單光束積分球時，需要對由于樣品的吸收而引起的積分球效率降低進行修正，否則儀器將給出非線性的測量結果。經修正的反射比見式（8）：

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3?測量某些類型的樣品（諸如逆反射材料），需要不同的幾何條件或寬容度。如果應用特殊的照明和測量條件，需要進行特別說明。

4?使用積分球時，為遮擋樣品和球壁人射孔或測量孔之間的直射光，需要使用表面涂白的擋屏。積分球開口的總面積不應超過球內反射面積的10%。

5?漫射樣品能夠將輻射散射到與其表面接近平行的方向上，在漫反射比測量中應包含這部分輻射。

6?當積分球用于熒光樣品的測量時，照明系統的相對光譜功率分布將被樣品的反射功率和發射功率替換。因此45 a?0*、45*x：0°、0*：45°a和0°：45°x條件更適合這種情況的應用。

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